A test system for a design of a network device under test, having multiple design modules, includes multiple field programmable gate arrays configured for performing operations of the respective design modules. The test system also includes shared resources, where each field programmable gate array includes resource control logic for accessing the shared resources according to a prescribed shared resource protocol. Hence, the resource control logic of each of the field programmable gate arrays cooperate to ensure there is no interference between the multiple field programmable gate arrays for the shared resources. Hence, a design can be partitioned into multiple field programmable gate arrays, enabling testing of large scale designs; moreover, the partitioning of the design into multiple FPGAs enables each design module to be separately controlled, enabling design revisions to different design modules as necessary, without any other modification to the remaining test system.

Ein Testsystem für ein Design einer Netzvorrichtung unter Test, mehrfache Designmodule habend, schließt Mehrfachverbindungsstelle auffangen die programmierbaren Gatteranordnungen ein, die für das Durchführen von von Betrieben der jeweiligen Designmodule zusammengebaut werden. Das Testsystem schließt auch geteilte Betriebsmittel ein, in denen jedes programmierbare Gatteranordnung einschließt Betriebsmittelverwaltung Logik für das Zugänglich machen der geteilten Betriebsmittel entsprechend einem vorgeschriebenen geteilten Hilfsmittelprotokoll auffangen. Folglich ist die Betriebsmittelverwaltung Logik von jedem auffangen, das programmierbare Gatteranordnungen zusammenarbeiten, um dort sicherzustellen, keine Störung zwischen der Mehrfachverbindungsstelle auffangen programmierbare Gatteranordnungen für die geteilten Betriebsmittel. Folglich kann ein Design in Mehrfachverbindungsstelle verteilt werden auffangen die programmierbaren Gatteranordnungen und der Prüfung der großen Skala ermöglichen, entwirft; außerdem ermöglicht das Verteilen des Designs in mehrfaches FPGAs jedem Designmodul, separat gesteuert zu werden und ermöglicht Designneuausgaben zu den unterschiedlichen Designmodulen wie benötigt, ohne irgendeine andere Änderung am restlichen Testsystem.

 
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