A semiconductor device which has a test mode for testing the semiconductor device, is provided with a circuit which generates a first signal based on dummy command signals which are input thereto a plurality of times, and generates a second signal which instructs entry to a corresponding test mode or an exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.

Un dispositivo de semiconductor que tiene un modo de la prueba para probar el dispositivo de semiconductor, se proporciona un circuito que genere una primera señal basada en las señales simuladas del comando que se entran además una pluralidad de épocas, y genere una segunda señal que mande a la entrada a un modo correspondiente de la prueba o a una salida de un modo correspondiente de la prueba basado en una señal de la dirección y la primera señal.