An electrical test probe tip of the present invention has a longitudinal axis extending from a first end to a second end and an electrically conductive interior extending substantially therebetween. A conductive exterior-most surface at least partially surrounds the electrically conductive interior. The test probe tip has a maximum length measured from the first end to the second end and has a minimum length measured from the first end to the second end. An electrically insulated surface at the first end substantially descends from the maximum length to the minimum length. The electrical test probe tip may be inserted between a target IC pin and the electrically insulated surface faces the adjacent IC pin.

Un bout électrique de sonde d'essai de la présente invention a un axe longitudinal s'étendre d'une première extrémité à une deuxième extrémité et un intérieur électriquement conducteur se prolongeant therebetween sensiblement. Une surface extérieure-plus conductrice entoure au moins partiellement l'intérieur électriquement conducteur. Le bout de sonde d'essai a une longueur maximum mesurée la première extrémité à la deuxième extrémité et a une longueur minimum mesurée la première extrémité à la deuxième extrémité. Une surface électriquement isolée à la première extrémité descend sensiblement de la longueur maximum à la longueur minimum. Le bout électrique de sonde d'essai peut être inséré entre une goupille d'IC de cible et les visages extérieurs électriquement isolés la goupille adjacente d'IC.