An electric field distribution is calculated by means of a drift diffusion model, and a one-dimensional electric field distribution is taken out from a result of the calculation, and this electric field distribution which was taken out is provided to a one-dimensional Monte Carlo device simulation to calculate a distribution of impact ionization coefficients, and G.sup.n (x) is calculated by using an equation 1 to an equation 5 which are described below ##EQU1## and as a result of this calculation, it is determined that a breakdown does not occur in case that, as n becomes to be large, G.sup.n (x) converges to a constant value, and final electric current density is calculated, and it is determined that a breakdown occurs in case that G.sup.n (x) becomes to be large as n increases.

Uma distribuição do campo elétrico é calculada por meios de um modelo da difusão da tração, e uma distribuição one-dimensional do campo elétrico é removida de um resultado do cálculo, e esta distribuição do campo elétrico que foi removida é fornecida a uma simulação one-dimensional do dispositivo de Monte Carlo para calcular uma distribuição de coeficientes do ionization de impacto, e a G.sup.n (x) é calculada usando uma equação 1 a uma equação 5 que são descritos abaixo do ## do ## EQU1 e como um resultado deste cálculo, ele é determinada que uma avaria não ocorre no caso que, enquanto n se torna para ser grande, G.sup.n (x) converge a um valor constante, e a densidade atual elétrica final está calculado, e determina-se que uma avaria ocorre caso que esse G.sup.n (x) se torna para ser grande enquanto n aumenta.

 
Web www.patentalert.com

< (none)

< Optimizing control method and optimizing control system for power plant

> Multi-wavelength semiconductor light source and process for producing the same

> (none)

~ 00097