A test device for electrically testing an electronic device (DUT) 100 comprises a pattern memory 13A, a pattern generator 13, a first filter 20B, and a pin electronic assembly 19. The pattern memory 13A stores data defining test patterns to be supplied to the DUT 100. The pattern generator 13 generates a plurality of test patterns to be input to a plurality of input pins of the DUT using digital signals based on the data stored in the pattern memory 13A. The first filter converts at least one of the plurality of test patterns to analog signals. The pin electronic assembly 19 supplies the plurality of test patterns including the analog signal test pattern to the DUT 100.

Een testapparaat om een elektronisch apparaat (DUT) 100 elektrisch te testen bestaat uit een patroongeheugen 13A, uit een patroongenerator 13, uit een eerste filter 20B, en uit een speld elektronische assemblage 19. Het patroongeheugen 13A slaat gegevens op bepalend testpatronen die aan DUT 100 moeten worden geleverd. Patroongenerator 13 produceert een meerderheid van testpatronen die in een meerderheid van inputspelden van DUT moeten worden ingevoerd gebruikend digitale signalen die op de gegevens worden gebaseerd die in het patroongeheugen 13A worden opgeslagen. De eerste filter zet minstens één van de meerderheid van testpatronen in analoge signalen om. Speld elektronische assemblage 19 levert de meerderheid van testpatronen met inbegrip van het patroon van de analoog signaaltest aan DUT 100.