Method of testing integrated circuitry at system and module level

   
   

A method of testing integrated circuitry at a module and system level, in which an intermediate test, including multiple testing steps, is generated in a third programming language. The intermediate test is converted into an abstract representation of the testing steps. System and module level tests based on the abstract representation are generated in second and first respective programming languages. The integrated circuitry is then tested at system level with the system-level test and at module level with the module level test.

Метод испытывать интегрированные сети на модуле и системном уровне, в котором промежуточное испытание, включая множественные испытывая шаги, произведено в третьем языке программирования. Промежуточное испытание преобразовано в абстрактное представление испытывая шагов. Испытания системы и модуля ровные основанные на абстрактном представлении произведены в вторых и первых соответственно языках программирования. Интегрированные сети после этого испытаны на системном уровне с system-level испытанием и на уровне модуля с испытанием уровня модуля.

 
Web www.patentalert.com

< Method of analyzing static current test vectors for semiconductor integrated circuits

< Design circuit pattern for test of semiconductor circuit

> Machine cut task identification for efficient partition and distribution

> Field correction of overlay error

~ 00101