A probe device having a contact probe including a film, a plurality of
wiring patterns formed on the film with each wiring pattern having a front
end portion projecting from the film so as to form contact pins, and a
metal layer provided on the film. In one embodiment, the contact probe
device includes first and second contact probes connected to each other,
the first contact probe including a first film, and a plurality of first
wiring patterns formed on the first film, each first wiring pattern having
a front end portion projecting from the first film so as to form contact
pins. The second contact probe includes a second film, and a plurality of
second wiring patterns formed on the second film. The plurality of second
wiring patterns are connected to the plurality of first wiring patterns,
and the second contact probe is formed separately from the first contact
probe.
Un dispositif de sonde ayant une sonde de contact comprenant un film, une pluralité de modèles de câblage a formé sur le film avec chaque modèle de câblage ayant une partie d'embout avant projeter du film afin de former des goupilles de contact, et une couche en métal fournie sur le film. Dans une incorporation, le dispositif de sonde de contact inclut d'abord et en second lieu les sondes de contact reliées entre eux, la première sonde de contact comprenant un premier film, et une pluralité des premiers modèles de câblage formés sur le premier film, chaque premier modèle de câblage ayant une partie d'embout avant projeter du premier film afin de former des goupilles de contact. La deuxième sonde de contact inclut un deuxième film, et une pluralité des deuxièmes modèles de câblage formés sur le deuxième film. La pluralité des deuxièmes modèles de câblage sont reliées à la pluralité des premiers modèles de câblage, et la deuxième sonde de contact est formée séparément de la première sonde de contact.
