The use of light scattering particles in the design, manufacturing, and
quality control of microscale devices and process, and the analysis of
solid substrate and porous substrate characteristics is described.
Het gebruik van het lichte verspreiden zich deeltjes in het ontwerp, productie, en kwaliteitsbeheersing van micro-schaalapparaten en proces, wordt en de analyse van stevig substraat en poreuze substraatkenmerken beschreven.
