There is provided a probe for a scanning probe microscope, comprising: a
proximal end; and a distal tip portion, wherein the distal tip portion has
a tip surface which faces a fixed sample, and at least one monolayer is
formed at least on the tip surface, and a molecule having a chemical
sensor function or catalytic function is placed in or on an outermost
monolayer above the tip surface. There is provided a probe for a scanning
probe microscope, comprising: a cover layer containing an electrically
conductive polymer; and a catalyst in the cover layer, the catalyst being
selected from a group consisting of inorganic catalysts and organic
catalysts. There are provided a scanning probe microscope equipped with
the above probe, and a molecule processing method using such a scanning
probe microscope.
É fornecido uma ponta de prova para um microscópio da ponta de prova da exploração, compreendendo: uma extremidade proximal; e uma parcela distal da ponta, wherein a parcela distal da ponta tem uma superfície da ponta que enfrente uma amostra fixa, e ao menos um monolayer é dada forma ao menos na superfície da ponta, e uma molécula que tem uma função química do sensor ou a função catalytic é colocada ou em um monolayer outermost acima da superfície da ponta. É fornecido uma ponta de prova para um microscópio da ponta de prova da exploração, compreendendo: uma camada da tampa que contem um polímero eletricamente condutor; e um catalizador na camada da tampa, o catalizador que está sendo selecionado de um grupo que consiste em catalizadores inorgánicos e em catalizadores orgânicos. É fornecido um microscópio da ponta de prova da exploração equipado com a ponta de prova acima, e um método processando da molécula usando tal microscópio da ponta de prova da exploração.
