N-bit external data input from the outside is converted to m-bit data
(m>n) by simultaneous write circuits and the m-bit data is supplied to
a semiconductor memory. When m-bit data is read out of the semiconductor
memory, coincidence judgement results are output. Thus, in a
memory-logic-combined integrated circuit, the semiconductor memory can be
efficiently tested without a lot of external data input/output terminals.
N-Spitze wird externe Dateneingabe von der Außenseite in Mspitze Daten umgewandelt (m N) durch simultanes schreiben Stromkreise und die Mspitze Daten werden an einen Halbleiterspeicher geliefert. Wenn Mspitze Daten aus dem Halbleiterspeicher heraus gelesen werden, werden Übereinstimmung Urteilresultate ausgegeben. So in einer Gedächtnis-Logik-kombinierten integrierten Schaltung, kann der Halbleiterspeicher ohne eine Menge externe Dateninput/Output Anschlüß leistungsfähig geprüft werden.
