A circuit and method for selectively outputting internal information in a
semiconductor memory device comprising a test circuit such as a JTAG test
circuit. The internal information is selectively output through a test pin
of the test circuit during a normal operation mode of the semiconductor
memory. The internal information of a semiconductor memory chip is output
as either a digital or analog signal without having to add additional
package pins.
Un circuito y un método para selectivamente hacer salir la información interna en un dispositivo de memoria de semiconductor que abarca un circuito de la prueba tal como un circuito de la prueba de JTAG. La información interna se hace salir selectivamente a través de un perno de la prueba del circuito de la prueba durante un modo normal de la operación de la memoria de semiconductor. La información interna de una viruta de memoria de semiconductor se hace salir como señal digital o análoga sin tener que agregar los pernos adicionales del paquete.
