According to a method of measuring a thickness, to measure a thickness d of
a liquid crystal layer 11, a property of reflected light is utilized, in
that the light returns maintaining the same polarizing plane as that of an
entrance when a polarizing plane-maintaining condition is satisfied in
which a difference in optical path lengths between an ordinary ray and an
extraordinary ray of the reflected light is a sum of an integer multiple
of the wavelength and a half-wavelength or an integer multiple, to find a
wavelength at which the polarizing plane-maintaining condition is
satisfied. A reasonable .DELTA.n.multidot.d is thereby found. This is
performed for a plurality of wavelengths to find a relational expression
of a wavelength and .DELTA.n.multidot.d. A known combination of a
wavelength .lambda. and .DELTA.n is assigned to the relational expression
to find d.
Secondo un metodo di misurazione dello spessore, per misurare uno spessore d di uno strato di cristallo liquido 11, una proprietà di luce riflessa è utilizzata, in quanto la luce rinvia effettuando lo stesso aereo di polarizzazione di quello di un'entrata quando una condizione aereo-effettuante di polarizzazione è soddisfatta in cui una differenza nelle lunghezze del percorso ottiche fra un raggio ordinario e un raggio straordinario della luce riflessa è una somma di un multiplo di numero intero della lunghezza d'onda e una metà-lunghezza d'onda o un multiplo di numero intero, per trovare una lunghezza d'onda a cui la condizione aereo-effettuante di polarizzazione è soddisfatta. Un DELTA.n.multidot.d ragionevole quindi è trovato. Ciò è effettuata per una pluralità di lunghezze d'onda per trovare un'espressione relazionale di una lunghezza d'onda e di un DELTA.n.multidot.d. Una combinazione conosciuta di un lambda. e di un DELTA.n di lunghezza d'onda è assegnata all'espressione relazionale al ritrovamento d.
