A low coherent reflectometer uses low coherent beams for measurement of
refletance and refleting positions with respect to a measured optical
circuit which includes a reflecting point. The low coherent beams are
branched to produce measurement beams (DL) and local beams (KL), so that
the measurement beams are introduced into a first optical path, which
includes a dispersion shifted fiber, towards the measured optical circuit,
while the local beams are introduced into a second optical path which
includes a spatial optical path terminated by a reflecting mirror.
Refleted measurement beams (RL) and reflected local beams are combined
together to produce combined beams, which are subjected to processing and
analysis.
Un reflectómetro coherente bajo utiliza las vigas coherentes bajas para la medida del refletance y de posiciones refleting con respecto a un circuito óptico medido que incluya un punto de reflejo. Las vigas coherentes bajas se ramifican para producir las vigas de la medida (DL) y las vigas locales (kilolitro), para introducir las vigas de la medida en una primera trayectoria óptica, que incluye una fibra cambiada de puesto dispersión, hacia el circuito óptico medido, mientras que las vigas locales se introducen en una segunda trayectoria óptica que incluya una trayectoria óptica espacial terminada por un espejo de reflejo. Las vigas de la medida de Refleted (RL) y las vigas locales reflejadas se combinan juntas para producir las vigas combinadas, que se sujetan al proceso y al análisis.
