A parallel test board preferably includes a plurality of serial slots
connected to a motherboard and a number of parallel slots connected to the
motherboard in parallel with each other. The motherboard provides an
actual operational environment for devices under test (DUTs). DUTs are
mounted in the slots. Using a plurality of serial slots, distorted timings
due to one serial slot (e.g., an extension slot) have an influence on the
other serial slot (e.g., a reference slot), as well as on the parallel
slots. In this manner, a timing margin failure occurring during a
multi-bank operation can be effectively detected. The slots to which the
DUTs are mounted preferably have a socket structure with a support block
having contact pins arranged thereon. Each of the contact pins preferably
has a module contact part configured to contact a tab of the DUT and a
board contact part configured to contact conductive wiring patterns of an
intermediation board. An elastic member is also preferably interposed
between the support block and each of the module and the board contact
parts. According to various aspects and embodiments of this invention,
testing reliability is improved and the durability of the test board is
significantly increased.
Uma placa paralela do teste inclui preferivelmente um plurality dos entalhes de série conectados a um cartão-matriz e de um número de entalhes paralelos conectados ao cartão-matriz na paralela com se. O cartão-matriz fornece um ambiente operacional real para dispositivos sob o teste (DUTs). DUTs é montado nos entalhes. Usando um plurality de entalhes de série, os sincronismos distorcidos devido a um entalhe de série (por exemplo, um entalhe de extensão) têm uma influência no outro entalhe de série (por exemplo, um entalhe da referência), as.well.as nos entalhes paralelos. Nesta maneira, uma falha da margem do sincronismo que ocorre durante uma operação do multi-banco pode eficazmente ser detectada. Os entalhes a que o DUTs é montado preferivelmente têm uma estrutura do soquete com um bloco da sustentação que tem os pinos do contato arranjados thereon. Cada um dos pinos do contato tem preferivelmente uma peça do contato do módulo configurarada para contatar uma aba do DUT e uma peça do contato da placa configurarada para contatar testes padrões condutores da fiação de um intermediation board. Um membro elástico também interposed preferivelmente entre o bloco da sustentação e cada um do módulo e das peças do contato da placa. De acordo com vários aspectos e incorporações desta invenção, a confiabilidade testando é melhorada e a durabilidade da placa do teste é aumentada significativamente.
