The present invention relates to a device and to a method for examining and
manipulating microscopic objects (1), with a microscope (2), a light
source (3, 4) used to illuminate the object (1), an illumination beam path
(5), a detector (6) used to detect the light returning from the object
(1), a detection beam path (7), a light source (8) used for the object
manipulation and a manipulation light beam path (9). The device according
to the invention and the method according to the invention are intended to
permit three-dimensional examination and manipulation of objects (1) whose
dimension along the optical axis is greater than the depth of focus of the
microscope objective used, with the additional intention that object
manipulation should be possible at all sites of the three-dimensional
object (1).
Присытствыющий вымысел относит к приспособлению и к методу для рассматривать и манипулировать микроскопические предметы (1), с микроскопом (2), источник света (3, 4) использовано для того чтобы осветить предмет (1), курс луча (5) освещения, детектор (6) используемый для того чтобы обнаружить свет возвращающ от предмета (1), курс луча (7) обнаружения, источник света (8) используемый для манипуляции предмета и курс светового луча манипуляции (9). Приспособление согласно вымыслу и метод согласно вымыслу предназначены позволить трехмерные рассмотрение и манипуляцию предметов (1) размер вдоль оптически оси greater than глубина фокуса используемой задачи микроскопа, с дополнительным намерием что манипуляция предмета должна быть по возможности на всех местах трехмерного предмета (1).
