An integrated memory self-tester that tests an entire memory array reduces
the need for sophisticated external test equipment and reduces the
duration of the test. A read test of the memory array can check the memory
cells. Optional programmable registers may store the results of the tests.
The results may be transmitted from the memory device. The integrated
memory self-tester may be initiated via a test signal, be self initiated
periodically, or be initiated by other means.
Интегрированный собственн-tester памяти испытывает весь блок памяти уменьшает потребность для изощренного внешнего испытательного оборудования и уменьшает продолжительность испытания. Прочитанное испытание блока памяти может проверить ячейкы памяти. Опционные programmable регистры могут хранить результаты испытаний. Результаты могут быть переданы от приспособления памяти. Интегрированный собственн-tester памяти может быть начат через испытательный сигнал, будет собственной личностью начинаемой периодически, или был начат другими значениями.
