Method and structure for detection of electromechanical problems using variance statistics in an E-beam lithography device

   
   

An apparatus and method for detection of electromechanical and mechanical errors in an electron beam device is provided. First the existing subfield is divided into a gridlike structure where each grid can be considered a target. Then a plurality of target points are provided on each grid for measuring combined directional variances. The separated horizontal and vertical variances is also measured for each of the target points. This leads to the performance of a significance tests, based on the F statistic which we refer to as F.sub.HV, for horizontal and vertical values of each target points during which F.sub.STITCH values are also obtained. The F.sub.STITCH values are then compared for horizontal and vertical values and an error alert provided when there is a sufficiently large disparity between the separated F.sub.STITCH values. In an alternate embodiment of the present invention, a three dimensional grid is also provided to be used in a similar manner. The severity of the error can also be determined based on the disparity of the values. Lastly we refer to a simple F statistic for testing for flatness of the entire field, based on row and field information and refer to it as F.sub.ROWS.

Een apparaat en een methode voor opsporing van elektromechanische en mechanische fouten in een elektronenstraalapparaat worden verstrekt. Eerst is het bestaande deelgebied verdeeld in een gridlikestructuur waar elk net als een doel kan worden beschouwd. Dan wordt een meerderheid van doelpunten verstrekt op elk net voor het meten van gecombineerde richtingverschillen. De gescheiden horizontale en verticale verschillen wordt ook gemeten voor elk van de doelpunten. Dit leidt tot de prestaties van een betekenis test, gebaseerd op de F- statistiek die wij doorverwijzen naar aangezien F.sub.HV, voor horizontale en verticale waarden van elk doel richt tijdens welke F.sub.STITCH waarden ook worden verkregen. De waarden F.sub.STITCH worden dan vergeleken voor horizontale en verticale waarden en een foutenalarm bepaalde wanneer er een voldoende grote ongelijkheid tussen de gescheiden waarden F.sub.STITCH is. In een afwisselende belichaming van de onderhavige uitvinding, wordt een driedimensioneel net ook verstrekt om op een gelijkaardige manier worden gebruikt. De strengheid van de fout kan ook worden bepaald gebaseerd op de ongelijkheid van de waarden. Ten slotte verwijzen wij naar een eenvoudige F- statistiek voor het testen voor vlakheid van het volledige gebied, die op rij en gebiedsinformatie wordt gebaseerd en verwijzen naar het als F.sub.ROWS.

 
Web www.patentalert.com

< Segmentation method and apparatus for medical images using diffusion propagation, pixel classification, and mathematical morphology

< Device and method for registering a position sensor in an anatomical body

> Method and scanning electron microscope for measuring dimension of material on sample

> Data storage and retrieval playback apparatus for a still image receiver

~ 00128