A system and method is provided for detecting defects in an embedded
architecture or micro-processor based system. A look-up table, located
with in a programmable logic device, is accessed to obtain a value for a
particular byte of a predetermined data pattern. The predetermined data
pattern is associated with data from a bus coupled to the programmable
logic device. The accessed value of the predetermined data pattern is
compared to data that is received by the programmable logic device from a
memory coupled to the programmable logic device via the bus. An alarm
mechanism, to indicate an improper data comparison, is triggered based
upon the comparison of the predetermined data pattern and the data
received from the memory.
Un sistema y un método se proporciona para detectar defectos en una arquitectura encajada o un sistema basado microprocesador. Una tabla del look-up, situada con adentro un dispositivo de lógica programable, está alcanzada para obtener un valor para un octeto particular de un patrón predeterminado de los datos. El patrón predeterminado de los datos se asocia a datos de un autobús juntado al dispositivo de lógica programable. El valor alcanzado del patrón predeterminado de los datos se compara a los datos que son recibidos por el dispositivo de lógica programable de una memoria juntada al dispositivo de lógica programable vía el autobús. Se acciona un mecanismo del alarmar, indicar una comparación incorrecta de los datos, basó sobre la comparación del patrón predeterminado de los datos y de los datos recibidos de la memoria.
