System and method for polarization coherent anti-stokes Raman scattering microscopy

   
   

Systems and methods are disclosed for detecting a nonlinear coherent field induced in a microscopic sample. The system includes in an embodiment, a first source for generating a first polarized electromagnetic field at a first frequency and a second source for generating a second polarized electromagnetic field at a second frequency that is different from the first frequency. The system further includes optics for combining the first polarized electromagnetic field and the second polarized electromagnetic field in a collinear fashion such that the difference in polarization angles is .phi. wherein .phi. is not equal to zero. The optics further direct the combined electromagnetic field toward a common focal volume. The system also includes a polarization sensitive detector for detecting a nonlinear coherent field that is generated responsive to the first and second polarized electromagnetic fields in the focal volume.

I sistemi ed i metodi sono rilevati per la rilevazione del campo coerente non lineare indotto in un campione microscopico. Il sistema include in un incorporamento, in una prima fonte per la generazione del campo elettromagnetico in primo luogo polarizzato ad una prima frequenza ed in una seconda fonte per la generazione del campo elettromagnetico polarizzato secondo ad una seconda frequenza che è differente dalla prima frequenza. Il sistema ulteriore include l'ottica per la combinazione il campo elettromagnetico in primo luogo polarizzato e del secondo campo elettromagnetico polarizzato ad un modo collinear tali che la differenza negli angoli di polarizzazione è phi. in cui phi. non è uguale a zero. L'ottica ulteriore dirige il campo elettromagnetico unito verso un volume focale comune. Il sistema inoltre include un rivelatore sensibile di polarizzazione per la rilevazione del campo coerente non lineare che è sensible a reagire generato ai primi e secondi campi elettromagnetici polarizzati nel volume focale.

 
Web www.patentalert.com

< Microwave regime surface spectroscopy

< Film conveying apparatus

> Method and apparatus for a derivative spectrometer

> In-situ method and apparatus for end point detection in chemical mechanical polishing

~ 00134