The invention provides a probe measuring device for effecting local
measurements referring to a sample, having a first probe and a second
probe, a measurement condition adjustment arrangement adapted to commonly
adjust a first measurement condition of the first probe with respect to a
sample or a reference surface and a second measurement condition of the
second probe with respect to a sample or a reference surface, a detection
arrangement having a first detection arrangement associated with the first
probe adapted to independently detect first measurement data referring to
local measurements effected by the first probe and a second detection
arrangement associated with the second probe adapted to independently
detect second measurement data referring to local measurements effected by
the second probe. Also provided are methods for effecting local
measurements and local manipulations using multiple probes.
L'invenzione fornisce un dispositivo di misurazione di misura della sonda per effettuare le misure locali che si riferiscono ad un campione, avendo una prima sonda e una seconda sonda, una disposizione di registrazione di stato di misura adattata per registrare comunemente un primo stato di misura della prima sonda riguardo un campione o una superficie di riferimento e ad un secondo stato di misura della seconda sonda riguardo ad un campione o ad una superficie di riferimento, una disposizione di rilevazione che ha una prima disposizione di rilevazione connessa con la prima sonda adattata per rilevare indipendentemente i primi dati di misura riferirsi alle misure locali effettuate dalla prima sonda e ad una seconda disposizione di rilevazione connessa con la seconda sonda adattata per rilevare indipendentemente i secondi dati di misura riferirsi locali alle misure effettuato dalla seconda sonda. Inoltre sono forniti i metodi per effettuare le misure locali e le manipolazioni locali che usando il multiplo sonda.
