A nondestructive method is provided for efficiently determining thickness
of a sol-gel coating formed upon a metallic substrate. A value of infrared
energy reflected from the metallic substrate without the sol-gel coating
is determined. A value of infrared energy reflected from the metallic
substrate with the sol-gel coating is determined. A value of infrared
energy absorbed in the sol-gel coating is determined, and a value of the
infrared energy absorbed in the sol-gel coating is correlated to a
thickness of the sol-gel coating.
Un metodo antidistruttivo è fornito per efficientemente la determinazione dello spessore di un rivestimento del solenoide-gel formato su un substrato metallico. Un valore di energia infrarossa riflesso dal substrato metallico senza il rivestimento del solenoide-gel è determinato. Un valore di energia infrarossa riflesso dal substrato metallico con il rivestimento del solenoide-gel è determinato. Un valore di energia infrarossa assorbito nel rivestimento del solenoide-gel è determinato e un valore dell'energia infrarossa assorbita nel rivestimento del solenoide-gel è correlato ad uno spessore del rivestimento del solenoide-gel.