A method of testing/stressing a charge trapping device, such as a negative
differential resistance (NDR) FET is disclosed. By operating/stressing a
charge trap device during/after manufacture, a distribution of charge
traps can be altered advantageously to improve performance.
Um método de testing/stressing um dispositivo da caça com armadilhas da carga, tal como um FET negativo da resistência diferencial (NDR) é divulgado. Por operating/stressing uma manufatura do dispositivo during/after da armadilha da carga, uma distribuição de armadilhas da carga pode ser alterada vantajosamente para melhorar o desempenho.
