A memory module using a plurality of partially defective RDRAM devices in
combination to simulate a single, fully operational RDRAM device.
Multiple, partially defective RDRAM devices are configured to simulate a
fully operational RDRAM device by taking advantage of the manner in which
defective cells are localized on each RDRAM device.
Un módulo de la memoria usando una pluralidad de dispositivos parcialmente defectuosos de RDRAM en la combinación para simular un dispositivo solo, completamente operacional de RDRAM. Los dispositivos múltiples, parcialmente defectuosos de RDRAM son configurados para simular un dispositivo completamente operacional de RDRAM aprovechándose de la manera de la cual las células defectuosas se localizan en cada dispositivo de RDRAM.
