A pin configured to be disposed within a probe is provided. The probe may
be configured to measure a property of a conductive layer. The pin may
include a contact surface which may be substantially planar. The pin may
also include a first portion extending from the contact surface. A
cross-sectional area of the first portion, in a direction substantially
parallel to the contact surface, may be substantially equal to a surface
area of the contact surface across a length of the first portion. A system
configured to measure a property of a conductive layer is also provided.
The system may include a mounting device and at least two probes coupled
to the mounting device. The probes may be configured to measure the
property of a conductive layer. In addition, the mounting device may be
configured such that one of the probes may contact the conductive layer
during measurement.
Un perno configurato per essere disposto di all'interno di una sonda è fornito. La sonda può essere configurata per misurare una proprietà di uno strato conduttivo. Il perno può includere una superficie di contatto che può essere sostanzialmente planare. Il perno può anche includere una prima parte che si estende dalla superficie di contatto. Una sezione trasversale della prima parte, in un senso sostanzialmente parallelo alla superficie di contatto, può essere sostanzialmente uguale ad un'area della superficie di contatto attraverso una lunghezza della prima parte. Un sistema configurato per misurare una proprietà di uno strato conduttivo inoltre è fornito. Il sistema può includere un dispositivo del montaggio ed almeno due sonde accoppiati al dispositivo del montaggio. Le sonde possono essere configurate per misurare la proprietà di uno strato conduttivo. In più, il dispositivo del montaggio può essere configurato tali che una delle sonde può mettersi in contatto con lo strato conduttivo durante la misura.
