A method of calibrating a crossconnect including a MEMS device and another
optical device, each of which further include a plurality of elements, the
method including determining a relationship between an applied voltage and
an angle response for a number of the elements of the MEMS device,
determining a function of beam position and element position for the
number of the elements of the MEMS device, assembling the MEMS device and
the another optical device to produce the crossconnect, applying voltages
to make sample connections between the MEMS device and the another optical
device based on the relationship and the function, determining a
transformation for the sample connections caused by packaging the
crossconnect, and redetermining the relationship and the function based on
the transformation. The method may be iterated more than once to achieve a
more accurate determination.
Un método de calibrar un crossconnect incluyendo un dispositivo y otro dispositivo óptico, cada uno de MEMS de los cuales incluye más lejos una pluralidad de elementos, el método incluyendo la determinación de una relación entre un voltaje aplicado y una respuesta del ángulo para un número de los elementos del dispositivo de MEMS, determinando una función de la posición de viga y de la posición del elemento para el número de los elementos del dispositivo de MEMS, montando el dispositivo de MEMS y el otro dispositivo óptico para producir el crossconnect, aplicando voltajes para hacer conexiones de la muestra entre el dispositivo de MEMS y el otro dispositivo óptico basados en la relación y la función, determinando una transformación para las conexiones de la muestra causadas empaquetando el crossconnect, y redeterminando la relación y la función basadas en la transformación. El método se puede iterar más de una vez para alcanzar una determinación más exacta.
