An interferometer includes a waveguide core, and thin film heaters with
widths W1 and W2. The thin film heaters are mounted directly above the
waveguide core, and operate as two types of different annealing regions.
The annealing, which is carried out by supplying current to the thin film
heaters, can alter the quality of the cladding, and change the stress
applied on the waveguide core, thereby making it possible to control the
polarization dependency. Thus changing the width of the thin film heaters
and/or the amount of the supply current thereto enables the permanent
control of the effective refractive index (birefringence index)
independently in the transverse electric polarization mode and the
transverse magnetic polarization mode. This enables the transverse
electric polarization mode to be adjusted to a phase difference of
.lambda./2, and the transverse magnetic polarization mode to a phase
difference of zero.
Um interferometer inclui um núcleo do waveguide, e calefatores da película fina com larguras W1 e W2. Os calefatores da película fina são montados diretamente acima do núcleo do waveguide, e operam-se como dois tipos de regiões diferentes do recozimento. O recozimento, que é realizada fornecendo a corrente aos calefatores da película fina, pode alterar a qualidade do cladding, e muda o stress aplicado no núcleo do waveguide, fazendo desse modo o possível controlar a dependência do polarization. Assim mudar a largura dos calefatores da película fina e/ou a quantidade da corrente da fonte a isso permite o controle permanente do índice refractive eficaz (índice do birefringence) independentemente na modalidade elétrica transversal do polarization e na modalidade magnética transversal do polarization. Isto permite a modalidade elétrica transversal do polarization de ser ajustado a uma diferença de fase do lambda./2, e a modalidade magnética transversal do polarization a uma diferença de fase de zero.
