A method for determining parameters of a material includes comparing a
range of an actual x-ray scattering profile with a range of an expected
x-ray scattering profile for a material sample. The expected profile is
modified to match the actual profile and this is then repeated with an
ever-larger range of the profiles until two profiles match across the
whole of their profile. From the last modified expected profile the
parameters of the material are determined.
Eine Methode für die Bestimmung von von Parametern eines Materials schließt das Vergleichen einer Strecke eines tatsächlichen Röntgenstrahls ein, der Profil mit einer Strecke eines erwarteten Röntgenstrahls zerstreut, der Profil für eine materielle Probe zerstreut. Das erwartete Profil wird geändert, um das tatsächliche Profil zusammenzubringen und dieses wird dann mit einer überhaupt-größeren Strecke der Profile wiederholt, bis zwei Profile über dem Ganzen ihres Profils zusammenpassen. Vom Last modified werden erwartetes Profil die Parameter des Materials festgestellt.
