A test apparatus and method of its use for evaluating various performance
aspects of a test specimen is disclosed. A chamber within a housing
contains a cold mass tank with a contact surface in contact with a first
surface of a test specimen. The first surface of the test specimen is
spaced from the second surface of the test specimen by a thickness. The
second surface of the test specimen is maintained at a desired warm
temperature. The first surface is maintained at a constant temperature by
a liquid disposed within the cold mass tank. A boil-off flow rate of the
gas is monitored and provided to a processor along with the temperature of
the first and second surfaces of the test specimen. The processor
calculates thermal insulation values of the test specimen including
comparative values for heat flux and apparent thermal conductivity
(k-value). The test specimen may be placed in any vacuum pressure level
ranging from about 0.01 millitorr to 1,000,000 millitorr with different
residual gases as desired. The test specimen may be placed under a
mechanical load with the cold mass tank and another factors may be imposed
upon the test specimen so as to simulate the actual use conditions.
Ein Testapparat und eine Methode seines Gebrauches für das Auswerten der verschiedenen Leistung Aspekte eines Testprobestücks wird freigegeben. Ein Raum innerhalb eines Gehäuses enthält einen kalten Massenbehälter mit einer Kontaktfläche in Verbindung mit einer ersten Oberfläche eines Testprobestücks. Die erste Oberfläche des Testprobestücks wird von der zweiten Oberfläche des Testprobestücks durch eine Stärke gesperrt. Die zweite Oberfläche des Testprobestücks wird bei einer gewünschten warmen Temperatur beibehalten. Die erste Oberfläche wird bei einer konstanten Temperatur durch eine Flüssigkeit beibehalten, die innerhalb des kalten Massenbehälters abgeschaffen wird. KochenSie Strömungsgeschwindigkeit des Gases wird überwacht und zur Verfügung gestellt zu einem Prozessor zusammen mit der Temperatur der ersten und zweiten Oberflächen des Testprobestücks. Der Prozessor errechnet thermische Isolierung Werte des Testprobestücks einschließlich vergleichbare Werte für Hitzefluß und offensichtliche Wärmeleitfähigkeit (Kwert). Das Testprobestück kann in jedem waagerecht ausgerichteten Reichen des Vakuumdrucks von ungefähr 0.01 Millitorr bis 1.000.000 Millitorr mit unterschiedlichen Restgasen gelegt werden, wie gewünscht worden. Das Testprobestück kann unter eine mechanische Last mit dem kalten Massenbehälter gesetzt werden und eine anderen Faktoren können nach dem Testprobestück auferlegt werden, um die tatsächlichen Gebrauchzustände zu simulieren.
