Various methods of hot-electron imaging a workpiece are provided. In one
aspect, a method of examining a workpiece is provided that includes
directing a first photon at a photodetector at a first known time and
stimulating a circuit device of the workpiece at a second known time to
produce a condition in the circuit device conducive to photon emission. At
least one photon emitted by the circuit device in response to the
stimulation is detected. The first photon increases the quantum efficiency
of the photodetector in detecting the at least one photon. The detection
of the at least one photon relative to the first known time and the second
known time is time correlated to temporally distinguish the first photon
and the at least one photon and to temporally correlate the stimulation of
the circuit device to the detection of the at least one photon.
Los varios métodos de proyección de imagen del caliente-electro'n un objeto se proporcionan. En un aspecto, un método de examinar un objeto está a condición de que incluye dirigir un primer fotón en un fotodetector a la primera vez sabida y estimular un dispositivo del circuito del objeto a la segunda vez sabida de producir una condición en el dispositivo del circuito conducente a la emisión del fotón. Por lo menos un fotón emitido por el dispositivo del circuito en respuesta al estímulo se detecta. El primer fotón aumenta la eficacia del quántum del fotodetector en la detección del por lo menos un fotón. La detección del por lo menos un fotón concerniente a la primera vez sabida y a la segunda vez sabida es tiempo correlacionado para distinguir temporal el primer fotón y el por lo menos un fotón y para correlacionar temporal el estímulo del dispositivo del circuito a la detección del por lo menos un fotón.
