A light beam emitted from a semiconductor-laser light source is projected
onto a diffraction-grating scale after passing through a collimator lens,
a beam splitter and a central portion of an annular reflection grating.
Two diffracted light beams reflected from the diffraction-grating scale
are projected onto the annular reflection grating. The annular reflection
grating diffracts the light beams projected onto all portions thereon to a
substantially original direction to be projected onto and diffracted from
the same position on the diffraction-grating scale. The diffracted light
beams are superposed and the resultant light beam is returned to the beam
splitter. The light beam is guided by the beam splitter in a direction
different from the semiconductor-laser light source, and is detected by a
photosensor as an interference light beam. Even if the oscillation
wavelength of the semiconductor-laser light source changes, for example,
due to a change in the temperature environment, to change the diffraction
angles of the diffracted light beams, the light beams are diffracted with
original diffraction angles by the annular reflection grating, the
position of rediffraction by the diffraction-grating scale and the state
of emitted light beams are invariable. Hence, the state of interference is
stable.
Световой луч испущенный от источника света полупроводник-lazer запроектирован на огибани-diffraction-grating маштаб после проходить через объектив центрира, splitter луча и центральную часть кольцевой решетки отражения. 2 продифрагировали световые лучи отраженные от огибани-diffraction-grating маштаба запроектированы на кольцевую решетку отражения. Кольцевая решетка отражения дифрагирует световые лучи запроектированные, что на все части thereon к существенн первоначально направлению была запроектирована на и продифрагирована от такого же положения на огибани-diffraction-grating маштабе. Продифрагированные световые лучи superposed и возникающий световой луч возвращен к splitter луча. Световой луч направлен splitter луча в направление отличающееся от источник света полупроводник-lazer, и обнаружен photosensor как световой луч взаимодействия. Even if длина волны колебания источника света полупроводник-lazer изменяет, например, должное к изменению в окружающей среде температуры, для того чтобы изменить углы огибания продифрагированных световых лучей, световые лучи продифрагированы с первоначально углами огибания кольцевой решеткой отражения, положением rediffraction огибани-diffraction-grating маштабом и положение испущенных световых лучей беспеременно. Следовательно, положение взаимодействия стабилизировано.
