Dicing method for micro electro mechnical system chip

   
   

A dicing method for a micro electro mechanical system chip, in which a high yield and productivity of chips can be accomplished, resulting from preventing damage to microstructures during a dicing process by using a protective mask. The dicing method for a micro electro mechanical system chip, comprising the steps of designing a grid line and wafer pattern on a chip-scale on the non-adhesive surface of a transparent tape as a protective mask (first step); sticking microstructure-protecting membranes on the adhesive surface of the transparent tape (second step); putting the transparent tape on the whole surface of a wafer in a state wherein the grid line designed on the non-adhesive surface of the transparent tape is matched to the dicing line of the wafer (third step); cutting the transparent tape to a size larger than the wafer, mounting the wafer on a guide ring and dicing the wafer (fourth step); and separating the transparent tape from diced chips (fifth step).

Um método cortando para uma microplaqueta mecânica do sistema do micro eletro, em que um rendimento e uma produtividade elevados das microplaquetas podem ser realizados, resultando de impedir os danos aos microstructures durante um processo cortando usando uma máscara protetora. O método cortando para uma microplaqueta mecânica do sistema do micro eletro, compreendendo as etapas de projetar uma linha de grade e o teste padrão do wafer no microplaqueta-escalam na superfície do non-adesivo de uma fita adesiva transparente como uma máscara protetora (primeira etapa); furando as membranas microstructure-protegendo na superfície adesiva da fita adesiva transparente (segunda etapa); pondo a fita adesiva transparente sobre a superfície inteira de um wafer em um estado wherein a linha de grade projetada na superfície do non-adesivo da fita adesiva transparente é combinada à linha cortando do wafer (terceira etapa); cortando a fita adesiva transparente a um tamanho maior do que o wafer, montando o wafer em um anel e em cortar da guia o wafer (quarta etapa); e separando a fita adesiva transparente das microplaquetas cortadas (quinta etapa).

 
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< Electrical detection of dicing damage

< Dicing machine

> In-situ wear measurement apparatus for dicing saw blades

> Cutting solution supplying and controlling apparatus for dicing machine

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