Optical testing of integrated circuits with temperature control

   
   

Method and apparatus for optically testing (e.g., using a laser beam) an operating integrated circuit (device under test--DUT) that actively control the operating temperature of the DUT. This is chiefly useful with flip-chip packaged ICs. The temperature of the DUT varies with its operating power consumption, and this fluctuation in temperature adversely affects the results obtained during optical probing or other optical testing. Furthermore, the DUT may be damaged if its temperature exceeds design limits. The temperature of the DUT is controlled by thermally contacting the exposed backside surface of the DUT die to a diamond film heat conductor, an associated heat sink structure, and at least one thermoelectric device. The thermoelectric device is controlled by a temperature sensor proximal to the DUT. By controlling the amount and direction of the electrical current supplied to the thermoelectric device in response to the sensed temperature, the temperature of the DUT is maintained.

Μέθοδος και συσκευές για οπτικά (π.χ., χρησιμοποιώντας μια ακτίνα λέιζερ) ένα λειτουργούν ολοκληρωμένο κύκλωμα (συσκευή υπό δοκιμή -- DUT) που ελέγχει ενεργά τη λειτουργούσα θερμοκρασία του DUT. Αυτό είναι κυρίως χρήσιμο με συσκευασμένο κτύπημα-τσιπ ICs. Η θερμοκρασία του DUT ποικίλλει με τη λειτουργούσα κατανάλωση ισχύος της, και αυτή η διακύμανση στη θερμοκρασία έχει επιπτώσεις στα αποτελέσματα που επιτυγχάνονται κατά τη διάρκεια της οπτικής εξέτασης ή άλλης οπτικής δοκιμής. Επιπλέον, το DUT μπορεί να βλαφθεί εάν η θερμοκρασία της υπερβαίνει τα όρια σχεδίου. Η θερμοκρασία του DUT ελέγχεται με θερμικά να έρθει σε επαφή με την εκτεθειμένη επιφάνεια πίσω πλευρών του κύβου DUT σε έναν αγωγό θερμότητας ταινιών διαμαντιών, μια σχετική δομή νεροχυτών θερμότητας, και τουλάχιστον μια θερμοηλεκτρική συσκευή. Η θερμοηλεκτρική συσκευή ελέγχεται από έναν αισθητήρα θερμοκρασίας κεντρικό στο DUT. Με τον έλεγχο του ποσού και της κατεύθυνσης του ηλεκτρικού ρεύματος που παρέχεται στη θερμοηλεκτρική συσκευή σε απάντηση στην αισθανμένη θερμοκρασία, η θερμοκρασία του DUT διατηρείται.

 
Web www.patentalert.com

< Hybrid phase-shift mask

< Method and system for optically sorting and/or manipulating carbon nanotubes

> Optical assemblies for transmitting and manipulating optical beams

> Process of producing multicolor optical element

~ 00154