Method and system for controllably redirecting a light beam, having a
central wavelength .lambda., from a first light-receiving site to a second
light-receiving site. A diffraction grating is attached to or part of a
piezoelectric substrate, which is connected to one or two controllable
voltage difference sources. When a substrate voltage difference is changed
and the diffraction grating length in each of one or two directions is
thereby changed, at least one of the diffraction angle, the diffraction
order and the central wavelength is controllably changed. A diffracted
light beam component, having a given wavelength, diffraction angle and
diffraction order, that is initially received at a first light receiving
site (e.g., a detector or optical fiber) is thereby controllably shifted
or altered and can be received at a second light receiving site. A
polynomially stepped, chirped grating is used in one embodiment. In
another embodiment, an incident light beam, having at least one of first
and second wavelengths, .lambda.1 and .lambda.2, is received and
diffracted at a first diffraction grating to provide a first diffracted
beam. The first diffracted beam is received and diffracted at a second
diffraction grating to produce a second diffracted beam. The second
diffracted beam is received at a light-sensitive transducer, having at
least first and second spaced apart light detector elements that are
positioned so that, when the incident light beam has wavelength .lambda.1
or .lambda.2 (.lambda.1.noteq..lambda.2), the second diffracted beam is
received at the first element or at the second element, respectively;
change in a selected physical parameter at the second grating can also be
sensed or measured. A sequence of spaced apart light detector elements can
be positioned along a linear or curvilinear segment with equal or unequal
spacing.
Μέθοδος και σύστημα για controllably μια ελαφριά ακτίνα, που έχει ένα κεντρικό μήκος κύματος λαμψδα., από μια πρώτη ελαφρύς-λαμβάνοντας περιοχή σε μια δεύτερη ελαφρύς-λαμβάνοντας περιοχή. Ένα κιγκλίδωμα διάθλασης είναι συνημμένο με ή μέρος ενός πιεζοηλεκτρικού υποστρώματος, το οποίο συνδέεται με μια ή δύο ελέγξιμες πηγές διαφοράς τάσης. Όταν μια διαφορά τάσης υποστρωμάτων αλλάζουν και το μήκος κιγκλιδωμάτων διάθλασης σε κάθε μια από μια ή δύο κατευθύνσεις με αυτόν τον τρόπο αλλάζουν, τουλάχιστον μια από τη γωνία διάθλασης, τη διαταγή διάθλασης και το κεντρικό μήκος κύματος αλλάζουν controllably. Ένα προξενημένο περίθλαση τμήμα ελαφριών ακτίνων, που έχει ένα δεδομένες μήκος κύματος, μια γωνία διάθλασης και μια διαταγή διάθλασης, που παραλαμβάνεται αρχικά επί ενός πρώτου ελαφριού λαμβάνοντος τόπου (π.χ., ένας ανιχνευτής ή μια οπτική ίνα) με αυτόν τον τρόπο μετατοπίζεται controllably ή αλλαγμένος και μπορεί να παραληφθεί επί ενός δεύτερου ελαφριού λαμβάνοντος τόπου. Ένα polynomially περπατημένο, τερετισμένο κιγκλίδωμα χρησιμοποιείται σε μια ενσωμάτωση. Σε μια άλλη ενσωμάτωση, μια συναφής ελαφριά ακτίνα, που έχει τουλάχιστον μια από πρώτα και τα δεύτερα μήκη κύματος, λαμψδα.1 και λαμψδα.2, παραλαμβάνεται και προξενείται περίθλαση σε ένα πρώτο κιγκλίδωμα διάθλασης για να παρέχει μια πρώτη προξενημένη περίθλαση ακτίνα. Η πρώτη προξενημένη περίθλαση ακτίνα παραλαμβάνεται και προξενείται περίθλαση σε ένα δεύτερο κιγκλίδωμα διάθλασης για να παραγάγει μια δεύτερη προξενημένη περίθλαση ακτίνα. Η δεύτερη προξενημένη περίθλαση ακτίνα παραλαμβάνεται σε έναν φωτοευαίσθητο μετατροπέα, που έχει τουλάχιστον πρώτα και δευτερευόντως χωρισμένα κατά διαστήματα χώρια ελαφριά στοιχεία ανιχνευτών που τοποθετούνται έτσι ώστε, όταν έχει η συναφής ελαφριά ακτίνα το μήκος κύματος λαμψδα.1 ή λαμψδα.2 (λαμψδα.1.νοτεq..λαμψδα.2), η δεύτερη προξενημένη περίθλαση ακτίνα παραλαμβάνεται στο πρώτο στοιχείο ή στο δεύτερο στοιχείο, αντίστοιχα η αλλαγή σε μια επιλεγμένη φυσική παράμετρο στο δεύτερο κιγκλίδωμα μπορεί επίσης να αισθανθεί ή να μετρηθεί. Μια ακολουθία χωρισμένων κατά διαστήματα χώρια ελαφριών στοιχείων ανιχνευτών μπορεί να τοποθετηθεί κατά μήκος ενός γραμμικού ή καμπυλόγραμμου τμήματος με το ίσο ή άνισο διάστημα.
