The present invention is directed to an interactive representation of
structural dependencies in semiconductor design flows. In an aspect of the
present invention, a method for providing interactive representation of
structural dependencies in a semiconductor design flow as implemented by
an information handling system may include detecting a modified value of a
parameter of the semiconductor design flow. At least one parameter
dependent on the changed parameter is identified, the dependent parameter
previously entered by a user.
A invenção atual é dirigida a uma respresentação interativa de dependências estruturais em fluxos do projeto do semicondutor. Em um aspecto da invenção atual, um método para fornecer a respresentação interativa de dependências estruturais em um fluxo do projeto do semicondutor como executado por um sistema da manipulação da informação pode incluir detectar um valor modificado de um parâmetro do fluxo do projeto do semicondutor. Ao menos um dependente do parâmetro no parâmetro mudado é identificado, o parâmetro dependente incorporado previamente por um usuário.
