Sensing method and apparatus for resistance memory device

   
   

An MRAM memory integrated circuit is disclosed. Resistance, and hence logic state, is determined by discharging a first charged capacitor through an unknown cell resistive element to be sensed at a fixed voltage, and a pair of reference capacitors. The rate at which the parallel combination of capacitors discharge is between the discharge rate associated with a binary `1` and `0` value, and thus offers a reference for comparison.

Een MRAM geheugengeïntegreerde schakeling wordt onthuld. De weerstand, en vandaar logicastaat, wordt bepaald door het lossen van een eerste geladen condensator door een onbekend cel weerstand biedend element om bij een vast voltage worden ontdekt, en een paar verwijzingscondensatoren. Het tarief waaraan de parallelle combinatie van condensatorenlossing tussen het lossingstarief is associëerde met een binaire 0` waarde ` 1` en `, en biedt zo een verwijzing voor vergelijking aan.

 
Web www.patentalert.com

< Dual polling media access control protocol for packet data in fixed wireless communication systems

< Shared volatile and non-volatile memory

> Semiconductor device and a method of manufacturing the same

> Thin film magnetic memory device including memory cells having a magnetic tunnel junction

~ 00163