An apparatus and method are provided for testing memory circuits in a
microprocessor. The apparatus includes test management logic and test
execution logic located within the microprocessor. The test management
logic has a non-specific test program stored therein, and it accepts test
parameters provided by an external test controller. The test parameters
are applied to the non-specific test program to produce a specific test
program by inserting the test parameters in place of a plurality of
non-specific test operands. The test execution logic executes the specific
test program to test the memory circuits within the microprocessor at the
internal speed of the microprocessor.
Een apparaat en een methode worden verstrekt voor het testen van geheugenkringen in een microprocessor. Het apparaat omvat de logica van het testbeheer en de logica van de testuitvoering die binnen de microprocessor wordt gevestigd. De logica van het testbeheer heeft een niet-specifiek daarin opgeslagen testprogramma, en het keurt testparameters goed die door een extern testcontrolemechanisme worden verstrekt. De testparameters worden toegepast op het niet-specifieke testprogramma om een specifiek testprogramma te veroorzaken door de testparameters in plaats van een meerderheid van niet-specifieke testoperands op te nemen. De logica van de testuitvoering voert het specifieke testprogramma uit om de geheugenkringen binnen de microprocessor bij de interne snelheid van de microprocessor te testen.
