An improved method is provided for performing nanomanipulations using an
atomic force microscope. The method includes: performing a
nanomanipulation operation on a sample surface using an atomic force
microscope; determining force data for forces that are being applied to
the tip of the cantilever during the nanomanipulation operation, where the
force data is derived along at least two perpendicularly arranged axis;
and updating a model which represents the topography of the sample surface
using the force data.
Eine verbesserte Methode wird für durchführende nanomanipulations mit einem Atomkraftmikroskop zur Verfügung gestellt. Die Methode schließt ein: Durchführen eines nanomanipulation Betriebes auf einer Beispieloberfläche mit einem Atomkraftmikroskop; Bestimmung Kraftdaten für Kräfte, die an der Spitze vom freitragenden während des nanomanipulation Betriebes aufgewendet werden, in dem die Kraftdaten entlang mindestens senkrecht geordneter Mittellinie zwei abgeleitet werden; und ein Modell aktualisierend, das die Topographie der Beispieloberfläche mit den Kraftdaten darstellt.
