Simultaneously increasing the effective frequency of scanning operations
and increasing memory capacity can be achieved by multiplexing multiple
state data into each tester memory location. A system includes a source
for providing scan-in sequences of state data as input stimuli into a
device under test (DUT) and expected scan-out sequences of state data. A
vector processor receives the scan-in sequences and expected scan-out
sequences and enables multiplexed state data exchanges in which the
multiple multiplexed state data vectors are manipulated at the tester
cycle rate, while the DUT manipulates the bits at its faster device cycle
rate. For a multiplexing factor of m, the device cycle rate may be m times
the tester cycle rate. The selection of the multiplexing factor is based
upon the storage capacity of individual tester memory locations and upon
enabling the effective vector exchange rate to be m times the tester cycle
rate.
Simultanément augmentant la fréquence efficace la capacité d'opérations de balayage et d'augmentation de mémoire peut être réalisée en multiplexant des données multiples d'état dans chaque endroit de mémoire d'appareil de contrôle. Un système inclut une source pour fournir balayer-dans des ordres des données d'état comme stimulus d'entrée dans un dispositif à l'essai (DUT) et prévu balayez-dehors les ordres des données d'état. Un processeur de vecteur reçoit balayer-dans des ordres et prévu balayez-dehors les ordres et permettez les échanges de données multiplexés d'état dans lesquels les vecteurs de données multiplexés multiples d'état sont manoeuvrés au taux de cycle d'appareil de contrôle, alors que le DUT manoeuvre le peu à sa vitesse plus rapide de cycle de dispositif. Pour un facteur de multiplexage de m, le taux de cycle de dispositif peut être des temps de m le taux de cycle d'appareil de contrôle. Le choix du facteur de multiplexage est basé sur la capacité de stockage de différents endroits de mémoire d'appareil de contrôle et en permettant au taux de change efficace de vecteur d'être des temps de m le taux de cycle d'appareil de contrôle.
