A method, system and software for automatically generating a test
environment for testing a plurality of devices (DUTs) under test in a test
system. The multiple devices are tested by mapping the plurality of DUTs
into pins of the tester system to create pin data; inputting into a test
program generator pattern data, generic test program rules and the pin
data; generating a multi-DUT test program and multi-DUT pattern data; and
controlling the test system through the test program. The resulting fail
data is then logged to each DUT.
Метод, система и средство программирования для автоматически производить окружающую среду испытания для испытывать множественность приспособлений (DUTs) под испытанием в системе испытания. Множественные приспособления испытаны путем составлять карту множественность DUTs в штыри системы тестера для того чтобы создать данные по штыря; inputting в данные по картины генератора программы испытания, родовые правила программы испытания и данные по штыря; производящ multi-DUT испытайте данные по программы и картины multi-DUT; и контролирующ систему испытания через программу испытания. Приводя к данные по терпеть неудачу после этого внесены в журнал к каждому DUT.
