A device for measuring the three-dimensional position of a single particle
(208) in a solution comprises a pulsed laser (201); a microscope system
for irradiating a single particle with a laser beam (203) emitted from a
pulsed laser (201); a photodetector (209) for detecting light dispersed by
the single particle; a computer (211) for recording the signal detected by
the photodetector (209) as displacement data and processing it; and a
high-speed A/D board (210) for introducing the signal detected by
photodetector (209) into the computer (211). Timing is set for data input
so that the signal detected by the photodetector (209) may be input to the
computer (211) at the moment of laser irradiation. It is possible to
measure the position of a particle of nanometer size in real time with
accuracy of nanometer order.
Un dispositivo para medir la posición tridimensional de una sola partícula (208) en una solución abarca un laser pulsado (201); un sistema del microscopio para irradiar una sola partícula con un rayo laser (203) emitido de un laser pulsado (201); un fotodetector (209) para detectar la luz se dispersó por la sola partícula; una computadora (211) para registrar la señal detectada por el fotodetector (209) como datos de la dislocación y procesarla; y un tablero DE ANALÓGICO A DIGITAL de alta velocidad (210) para introducir la señal detectada por el fotodetector (209) en la computadora (211). La sincronización se fija para la entrada de datos para poder entrar la señal detectada por el fotodetector (209) a la computadora (211) en el momento de irradiación del laser. Es posible medir la posición de una partícula del tamaño del nanómetro en tiempo real con la exactitud de la orden del nanómetro.
