Method and apparatus for automatically configuring and/or inserting chip resources for manufacturing tests

   
   

The present invention is directed to a method and an apparatus for automatically configuring and/or inserting chip resources for manufacturing tests. A maximum test configuration ("test backplane") for all IP blocks is created and loaded into a tool suite. When a user issues a request to consume some IP blocks, the request may be checked for legality within the "test backplane". If a test resource (IP block) is not available for activation, then either the test resource may not be activated or the conflicting resource problem must be resolved so that the test resource may be activated. This may avoid late design surprises. The resources on the platform may already have test structures associated with them. All of these test structures may be associated with the "test backplane". These pre-exiting test structures may then be connected.

Присытствыющий вымысел направлен к методу и прибору для автоматически устанавливать and/or вводить ресурсы обломока для испытаний изготавливания. Максимальная схема испытаний ("backplane испытания") для всех блоков ip создана и нагружена в сюиту инструмента. Когда потребитель выдает запрос уничтожить некоторые блоки ip, запрос может быть проверен для законности внутри "backplane испытания". Если ресурс испытания (блок ip) не имеющийся для активации, после этого или, то ресурс испытания не может быть активирован или противоречя проблему ресурса необходимо разрешить так, что ресурс испытания будет мочь быть активирован. Это может избежать последних сярпризов конструкции. Ресурсы на платформе могут уже иметь структуры испытания связанные с ими. Вся из этих структур испытания могут быть связаны с "backplane испытания". Эти пре-vyxod4 структуры испытания могут после этого быть соединены.

 
Web www.patentalert.com

< Method and apparatus for numerically analyzing grain growth on semiconductor wafer using SEM image

< Alignment apparatus and methods for transverse optical coupling

> Method of manufacturing a device, device manufacturing apparatus, device, and electronic apparatus

> Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating

~ 00168