A system and method for testing multiple components using a single host
system is shown and described. A host system with a single advanced
graphics port (AGP) is used to generate commands of a test routine to test
a particular type of AGP processing component. A test fixture interfaces
to the AGP port of the host system and provides the commands to each of a
plurality of test components. The test components process the commands
concurrently, generating results. The test fixture receives each of the
results in turn and provides the results to the host system, allowing the
host system to determine if the test components are functioning within
particular parameters. The test fixture provides an interface to allow
several test components to be tested as AGP master devices, over a single
AGP port on the host system.
Um sistema e um método para testar os componentes múltiplos que usam um único sistema de anfitrião são mostrados e descritos. Um sistema de anfitrião com um único porto avançado dos gráficos (AGP) é usado gerar comandos de uma rotina do teste testar um tipo particular de AGP que processa o componente. Um dispositivo elétrico do teste conectara ao porto de AGP do sistema de anfitrião e fornece os comandos a cada um de um plurality de componentes do teste. Os componentes do teste processam os comandos simultaneamente, gerando resultados. O dispositivo elétrico do teste recebe cada um dos resultados por sua vez e fornece os resultados ao sistema de anfitrião, permitindo que o sistema de anfitrião determine se os componentes do teste estiverem funcionando dentro dos parâmetros particulares. O dispositivo elétrico do teste fornece uma relação para permitir que diversos componentes do teste sejam testados como os dispositivos mestres de AGP, sobre um único porto de AGP no sistema de anfitrião.
