The present invention provides an analytical element which is free from
evaporation of a sample during measurement and therefore capable of
quantifying a substrate using a very small amount of sample with high
accuracy and which is free from scattering of the sample during and after
the measurement and therefore hygienically excellent; and a measuring
device and a substrate quantification method using the same. The
analytical element comprises a cavity for accommodating a sample, a
working electrode and a counter electrode exposed to an inside of the
cavity, a reagent layer which comprises at least an oxidoreductase and is
formed inside or in the vicinity of the cavity, an opening communicating
with the cavity and a member covering the opening.
De onderhavige uitvinding verschaft een analytisch element dat van verdamping van een steekproef tijdens meting en daarom geschikt om een substraat te kwantificeren dat een zeer kleine hoeveelheid steekproef met hoge nauwkeurigheid gebruikt vrij is en dat van zich het verspreiden van de steekproef tijdens en na de meting en daarom hygiënisch uitstekend vrij is; en een meetinstrument en een methode die van de substraatgetalsmatige weergave het zelfde gebruiken. Het analytische element bestaat uit een holte voor het aanpassen van een steekproef, een werkende elektrode en een tegenelektrode die aan een binnenkant van de holte wordt blootgesteld, een reagenslaag die bestaat minstens uit oxidoreductase en binnen of in de buurt van de holte gevormd, het openen communicerend met de holte en een lid behandelend het openen.
