The invention concerns a microscope having an image sensor (5) for
recording the microscope images. The specimen (3) to be examined can be
scanned by means of a stop (2) in the beam path of the illumination unit
and a positioning unit which moves the specimen (3) or the stop (2).
Opening the stop (2) or removing it from the beam path permits the entire
image to be scanned with the image sensor (5).
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop, das einen Bild-Sensor (5) für das Notieren der Mikroskopbilder hat. Das überprüft zu werden Probestück (3) kann mittels eines Anschlags (2) im Strahlengang der Ablichtung Maßeinheit und der in Position bringenmaßeinheit abgelichtet werden, die das Probestück (3) oder den Anschlag (2) verschiebt. Das Öffnen des Anschlags (2) oder das Entfernen er vom Strahlengang ermöglicht das gesamte Bild, mit dem Bild-Sensor (5) abgelichtet zu werden.
