Integrated circuitry comprises target circuitry and test circuitry. The target circuitry uses a clock signal to transfer a target signal within the integrated circuitry. The test circuitry samples the target signal at a selected time from a plurality of possible times within a clock cycle of the clock signal. The test circuitry samples the target signal in response to a test signal indicating the selected time.

Integrierter Schaltkreis enthält Zielschaltkreis und Testschaltkreis. Der Zielschaltkreis benutzt ein Taktgebersignal, ein Zielsignal innerhalb des integrierten Schaltkreises zu bringen. Der Testschaltkreis probiert das Zielsignal zu einer vorgewählten Zeit von einer Mehrzahl der möglichen Zeiten innerhalb eines Taktgeberzyklus des Taktgebersignals. Der Testschaltkreis probiert das Zielsignal in Erwiderung auf ein Testsignal, welches die vorgewählte Zeit anzeigt.