The present invention is a system and method that permits appropriate scan
testing of internal components of an integrated circuit while reducing the
number of external pins required to perform the scan testing. One
embodiment of the present invention utilizes standard IEEE 1149.1 pins
(e.g. TDO, TDI, TMS, TCK, etc.) to perform both boundary scan and full
scan testing. A modified IEEE 1149.1 TAP controller generates signals to
control the boundary scan and full scan operations. For example, a full
scan cell facilitates full scan capture and shift operations when the TAP
controller generates a full scan test mode signal and a full scan enable
signal in response to inputs via the standard IEEE 1149.1 pins. In one
example the scan enable signal is asserted when the TAP controller is in a
shift state and the TAP controller's instruction register is loaded with a
test mode instruction. A functional clock capture cycle is applied when
the state machine of the TAP controller is in run/idle state.
La présente invention est un système et une méthode qui permet l'essai approprié de balayage des composants internes d'un circuit intégré tout en réduisant le nombre de goupilles externes exigées pour réaliser l'essai de balayage. Un mode de réalisation de la présente invention utilise IEEE standard 1149.1 bornes (par exemple TDO, TDI, TMS, TCK, etc...) pour réaliser le balayage de frontière et le plein essai de balayage. Un contrôleur modifié de ROBINET d'IEEE 1149.1 produit des signaux pour commander le balayage de frontière et les pleines opérations de balayage. Par l'exemple, une pleine cellule de balayage facilite de pleines opérations de capture et de décalage de balayage quand le contrôleur de ROBINET produit d'un plein signal de mode d'essai de balayage et un plein balayage permettent le signal en réponse aux entrées par l'intermédiaire de l'IEEE standard 1149.1 bornes. Dans un exemple que le balayage permettent le signal est affirmé quand le contrôleur de ROBINET est dans un état de décalage et le registre de l'instruction du contrôleur de ROBINET est chargé avec une instruction de mode d'essai. Un cycle fonctionnel de capture d'horloge est appliqué quand la machine d'état du contrôleur de ROBINET est dans l'état de run/idle.
