A characteristic intensity of a feature in image data generated by scanning a microarray probe is determined. A set of pixels of the image data that nominally represent the feature is identified. The pixels each have an value (such as an intensity value) associated therewith. For each of a plurality of subsets of the set of pixels, a variation statistic value is determined that corresponds to a variation in the values associated with the pixels of that subset. One of the subsets of pixels is chosen based on the determined variation statistic values. A method is also described to relate a first expression array of probes to a second expression array of probes. A subset of the probe for the arrays is determined based on a comparison of the ordering of the subset of the probes of the second array, according to a particular characteristic of the probes, to the ordering of corresponding probes in the first array according to the particular characteristic of the probes. A relationship of the second expression array to the first expression array is determined based on the subset of probes o f the second expression array to the corresponding probes of the first array.

Eine charakteristische Intensität einer Eigenschaft in den Bilddaten erzeugte, indem sie eine microarray Prüfspitze ablichtete, wird festgestellt. Ein Satz Pixel der Bilddaten, die nominal die Eigenschaft darstellen, wird gekennzeichnet. Die Pixel jedes haben einen Wert (wie ein Intensität Wert) damit verbunden. Für jede einer Mehrzahl der Teilmengen des Satzes der Pixel, wird ein Veränderung Statistikwert festgestellt, der einer Veränderung der Werte entspricht, die mit den Pixeln dieser Teilmenge verbunden sind. Eine der Teilmengen der Pixel wird gründete auf den entschlossenen Veränderung Statistikwerten gewählt. Eine Methode wird auch beschrieben, um eine erste Ausdruck Reihe Prüfspitzen auf einer zweiten Ausdruck Reihe Prüfspitzen zu beziehen. Eine Teilmenge der Prüfspitze für die Reihen wird gründete auf einem Vergleich der Einrichtung der Teilmenge der Prüfspitzen von der zweiten Reihe, entsprechend einer bestimmten Eigenschaft der Prüfspitzen, zur Einrichtung der entsprechenden Prüfspitzen in der ersten Reihe entsprechend der bestimmten Eigenschaft der Prüfspitzen festgestellt. Ein Verhältnis der zweiten Ausdruck Reihe zur ersten Ausdruck Reihe wird gründete auf der Teilmenge von Prüfspitzen O f die zweite Ausdruck Reihe zu den entsprechenden Prüfspitzen der ersten Reihe festgestellt.