The application discloses a system and method for providing a compact and high speed mechanism for emulating an ASIC or other chip operating within a large computing system environment for diagnostic purposes. A two step process is disclosed for generating data patterns for fully exercising a chip and to then transmit these data patterns at a high frequency to a system under test. In phase one, a pattern generator preferably transmits test pattern data at a first frequency to a memory storage device. In phase two, the memory storage device is enabled to transmit the stored test pattern data at a high frequency to a system under test. Buffering the test pattern data in this manner enables the inventive system to bypass the data transmission speed limitation of the pattern generator while still employing the test patterns created by the pattern generator and to thereby test the system under test under high speed operating conditions.

De toepassing onthult een systeem en een methode om een compact en hoog snelheidsmechanisme om een ASIC of andere spaander na te streven die binnen een groot milieu van het gegevensverwerkingssysteem werken voor kenmerkende doeleinden te verstrekken. Een twee stapproces wordt onthuld voor het produceren van gegevenspatronen voor volledig het uitoefenen van een spaander en om deze gegevenspatronen bij een hoge frequentie aan een systeem in onderzoek dan over te brengen. In fase één, brengt een patroongenerator bij voorkeur de gegevens van het testpatroon bij een eerste frequentie over aan een geheugenopslaggelegenheid. In fase twee, wordt de geheugenopslaggelegenheid toegelaten om de opgeslagen gegevens van het testpatroon bij een hoge frequentie aan een systeem in onderzoek over te brengen. Op deze wijze het als buffer optreden van de voor gegevens van het testpatroon laat het vindingrijke systeem toe om de de snelheidsbeperking van de gegevenstransmissie van de patroongenerator te mijden terwijl nog het aanwenden van de testpatronen die door de patroongenerator worden gecreeerd en daardoor het systeem te testen in onderzoek in de hoge snelheids werkende omstandigheden.