A program power supply of a tester applies a power supply voltage to an IC to be tested. A pattern generator applies a clock signal and a command signal to a BIST circuit of IC. BIST circuit tests memory IC unit and logic IC unit and serially outputs data indicative of test result to a converter of tester. Converter converts the applied serial data to parallel data and applies to computer. As compared with the prior art in which address signal and control signal are applied to IC to be tested, the number of pins necessary for the test can be reduced. Therefore, cost of the test is reduced and efficiency of the test is improved.

Μια παροχή ηλεκτρικού ρεύματος προγράμματος ενός ελεγκτή εφαρμόζει μια τάση παροχής ηλεκτρικού ρεύματος σε ένα ολοκληρωμένο κύκλωμα που εξετάζεται. Μια γεννήτρια σχεδίων εφαρμόζει ένα σήμα ρολογιών και ένα σήμα εντολής σε ένα κύκλωμα BIST του ολοκληρωμένου κυκλώματος. Το κύκλωμα BIST εξετάζει τη μονάδα ολοκληρωμένου κυκλώματος μνήμης και τη μονάδα ολοκληρωμένου κυκλώματος λογικής και σειριακά τα δεδομένα εξόδων ενδεικτικές του αποτελέσματος της δοκιμής σε έναν μετατροπέα του ελεγκτή. Ο μετατροπέας μετατρέπει τα εφαρμοσμένα τμηματικά στοιχεία για να παραλληλίσει τα στοιχεία και ισχύει για τον υπολογιστή. Όπως συγκρίνεται με την προγενέστερη τέχνη στην οποία το σήμα διευθύνσεων και το σήμα ελέγχου εφαρμόζονται στο ολοκληρωμένο κύκλωμα που εξετάζεται, ο αριθμός καρφιτσών απαραίτητων για τη δοκιμή μπορεί να μειωθεί. Επομένως, το κόστος της δοκιμής μειώνεται και η αποδοτικότητα της δοκιμής βελτιώνεται.