The present invention is embodied in a system and method for predicting design errors, such as errors in integrated circuit design. The system and method of the present invention use a probabilistic model, such as a Bayesian Belief Network (BBN), to predict design errors at any point in the design process by using information about the current design in combination with historical design error data from previous designs. Prediction of design errors is based on a probabilistic comparison of conditions or error symptoms in the current design, to similar or identical conditions or error symptoms associated with design errors identified in prior designs. In addition, the system and method of the present invention is capable of rolling forward in a design from the point where conditions or error symptoms are predicted to analyze the effect such conditions or symptoms may have on the overall design functionality and performance, and whether such conditions and symptoms are actually caused by or will produce design errors. In other words, the system and method of the present invention predicts known errors that have a probabilistic chance of occurring under known conditions and during known tasks, new errors with a probabilistic chance of occurring due to new conditions during a known task, and new errors that have a probabilistic chance of occurring due to new errors that have already happened or have already been predicted.

Die anwesende Erfindung wird in einem System und in einer Methode für das Voraussagen von von Designstörungen, wie Störungen im Schaltungdesign dargestellt. Das System und die Methode der anwesenden Erfindung benutzen ein Wahrscheinlichkeitsmodell, wie ein bayesisches Glaubensnetz (BBN), um Designstörungen an irgendeinem Punkt im Designprozeß vorauszusagen, indem sie Informationen über das gegenwärtige Design im Verbindung mit historischen Designstörung Daten von den vorhergehenden Designs verwenden. Vorhersage der Designstörungen basiert auf einem Wahrscheinlichkeitsvergleich von Bedingungen oder von Indizien im gegenwärtigen Design, zu den ähnlichen oder identischen Bedingungen oder zu den Indizien, die mit den Designstörungen verbunden sind, die in den vorherigen Designs gekennzeichnet werden. Zusätzlich ist das System und die Methode der anwesenden Erfindung zum Rollen vorwärts in einem Design vom Punkt fähig, in dem Bedingungen oder Indizien vorausgesagt werden, um den Effekt zu analysieren solche Bedingungen, oder Symptome auf der Gesamtaufbaufunktionalität und -leistung haben können, und ob solche Bedingungen und Symptome werden wirklich vorbei verursacht oder werden Designstörungen produzieren. Das heißt, sagt das System und die Methode der anwesenden Erfindung bekannte Störungen voraus, die eine Wahrscheinlichkeitswahrscheinlichkeit des Auftretens unter bekannten Bedingungen und während der bekannten Aufgaben haben, neue Störungen mit einer Wahrscheinlichkeitswahrscheinlichkeit des Auftretens wegen der neuen Bedingungen während einer bekannten Aufgabe und neue Störungen, die eine Wahrscheinlichkeitswahrscheinlichkeit des Auftretens wegen der neuen Störungen haben, die bereits geschehen sind oder bereits vorausgesagt worden sind.